JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (www.jeol.com) (presidente y CEO, IzumiOi) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE) tipo Schottky, JSM-F100, en agosto de 2019.
https://www.jeol.co.jp/en/news/detail/20190804.3456.html
Antecedentes
Los microscopios electrónicos de barrido (SEM, por sus siglas en inglés) se utilizan en varios campos: nanotecnología, metales, semiconductores, cerámica, medicina y biología. Con la expansión de la aplicación, los usuarios de SEM necesitan una rápida adquisición de datos de alta calidad y una confirmación sencilla de la información compositiva, además de un funcionamiento sin problemas.
Fotos y galería multimedia disponibles en:https://www.businesswire.com/news/home/52016998/en
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